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簡要描述：HAG-2000基準(zhǔn)級光澤度儀是實現(xiàn)基準(zhǔn)級光澤度和相對測量的科學(xué)級儀器，主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞?？删_測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及鏡面反射率分布曲線。測量方式避免了相對測量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測量誤差，測量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測量重復(fù)性好。
產(chǎn)品型號：EVERFINE廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2019-01-27訪 問 量：1509產(chǎn)品分類
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HAG-2000基準(zhǔn)級光澤度儀?是實現(xiàn)基準(zhǔn)級光澤度和相對測量的科學(xué)級儀器，主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞?？删_測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及鏡面反射率分布曲線。測量方式避免了相對測量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測量誤差，測量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測量重復(fù)性好。是實現(xiàn)基準(zhǔn)級光澤度和相對測量的科學(xué)級儀器，主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞。可精確測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及鏡面反射率分布曲線。測量方式避免了相對測量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測量誤差，測量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測量重復(fù)性好。
HAG-2000基準(zhǔn)級光澤度儀?主要特點(diǎn)
● 光澤度測量不確定度U≤0.7，(k=3)，滿足JJG 2069光澤度基準(zhǔn)要求；
● 光澤度和相對測量可選；
● 采用精密對準(zhǔn)裝置實現(xiàn)角度精確定位，角度精度高達(dá)0.01；
● 探測器接收立體角*符合ISO，ASTM，GB，TAPPI, JIS等標(biāo)準(zhǔn)的測量幾何要求，精確接收鏡面反射光；
● 光源與探測器通過濾色片精確匹配CIE C光源和CIE光視效率函數(shù)V（λ）；
● 掃描各角度的反射率分布曲線，還可以比較標(biāo)準(zhǔn)和被測樣品的表面分布差異。
參數(shù) | HAG-2000 |
測量角度 | 20°、45°、60°、75°、85° |
接收角度精度 | ±0.01° |
測量范圍 | 0.1-2000GU |
測量誤差 | ±1.0 GU |
零值誤差 | 0.1 |
分辨率 | 0-100：0.1；100-1000: 1 |
測量重復(fù)性 | 0-100：±0.2GU；>100: ±0.2% |
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